Trade Fair Center Messe München  /  12. November 2024  -  15. November 2024

Das Fraunhofer IKS auf der electronica

Weltleitmesse und Konferenz der Elektronik

Halle B3 / Stand 530 am Gemeinschaftsstand von Bayern Innovativ

Auf der electronica vom 12. bis zum 15. November 2024 erfahren Sie, wie das Fraunhofer IKS Sie bei der flexiblen Qualitätsprüfung unterstützt. Denn die KI-basierte Erkennung von Fehlern oder Abweichungen hat das Potenzial, Ihre visuellen Qualitätskontrollen in der Industrie effizienter und genauer zu machen. Dies ist besonders in Zeiten von Fachkräftemangel und Kleinserienproduktion relevant, weshalb gerade im produzierenden Gewerbe ein hohes Interesse an solchen Lösungen besteht. Für den praktischen Einsatz liegen allerdings oft zu wenige Daten zu mangelhaften Exemplaren vor. Außerdem sind KI-Lösungen häufig nicht zuverlässig genug und sie lassen sich nicht ohne Weiteres auf neue Produkte oder geänderte Umgebungen übertragen.

FAST-Framework: teilautomatisierte Fehlererkennung

Das Fraunhofer IKS bietet hierfür Lösungen. Ein Beispiel hierfür ist unser FAST-Framework. Es unterstützt Kunden bei der visuellen Qualitätsinspektion, indem Mensch und Künstliche Intelligenz Hand in Hand in einem zunächst teilautomatisiertem Prozess Abweichungen vom Produkt identifizieren. Der Fokus liegt dabei auf einer verlässlichen fehlerresistenten Auswertung. Da FAST auch bei kleiner Datenlage eingesetzt werden kann, ist eine schnelle Integration möglich. Das Einbeziehen der menschlichen Fachkraft in den Entscheidungsprozess erhöht zudem das Vertrauen in die Anwendung. Mit FAST bietet Ihnen das Fraunhofer IKS eine einfach zu implementierende Lösung, deren Automatisierungsrate im Laufe der Zeit durch das Feedback der Experten kontinuierlich steigt.

Wiederverwendbare modulare Konzeptmodelle

Außerdem bietet das Fraunhofer IKS modulare und wiederverwendbare Konzeptmodelle. Diese können flexibel an neue Aufgaben und Daten angepasst werden, ohne das gesamte Modell neu trainieren zu müssen. Mit dieser Lösung des Fraunhofer IKS können wiederkehrende Fehlerbilder auch für neue Produktlinien wiederverwendet werden, was Zeit und Kosten spart.

Exponat auf der electronica: Besuchen Sie uns am Stand B3.530!

Am Gemeinschaftsstand von Bayern Innovativ (Halle B3, Stand 530) zeigt das Fraunhofer IKS mit seinem Exponat eine Lösung für dateneffiziente, zuverlässige und flexible visuelle Qualitätsinspektionssysteme am Beispiel der additiven Fertigung. In unseren Tests hat diese Lösung eine 0 % Fehlerrate bei unterschiedlichen Anwendungsfällen.

Alle Vorteile unserer Lösung auf einen Blick:

  • Schnelle Integration:
    Statt einer langen Datensammlungsphase im Voraus wird frühzeitig eine Teillösung implementiert, die bereits bei der Aufgabe unterstützt.
  • Geringere Hürden und Risiken:
    Die Einrichtung ist einfach und erfordert nur wenige Ausgangsdaten. 
  • Höhere Effizienz:
    Der Experte kann sich auf die Probleme konzentrieren, die seine Expertise erfordern. 
  • Vertrauen in das System:
    Durch die Arbeit mit dem System wird Akzeptanz und Vertrauen in maschinelle Lernverfahren aufgebaut.  

Besuchen Sie uns am Gemeinschaftsstand von Bayern Innovativ (B3.530). Dort besprechen wir sehr gerne Ihre individuellen Anforderungen!